Laserscanning-Mikroskop

3D Laserscanning-Mikroskope eignen sich zur Messung und Analyse einer Vielzahl von Messobjekten ohne die Notwendigkeit eines Vakuums. Dies ermöglicht zuverlässiges Scannen und Messen von 3D-Profilen sowie vollfokussierte Betrachtungen bei hoher Vergrößerung und hoher Tiefenschärfe.

Konfokale Laserscanning-Mikroskope bieten vollfokussierte Betrachtungsbilder mit hoher Tiefenschärfe als auch hochpräzise 3D-Profilmessungen. Durch die kombinierten Möglichkeiten zur vergrößerten Betrachtung und zur Messung, stellen sie Hybridgeräte dar. Laserscanning-Mikroskope der Modellreihe VK-X3000 verfügen über eine einfache Bedienung, Messobjekte verschiedenster Größen und Materialen können problemlos ohne Vakuum, in Farbe und bei Raumtemperatur betrachtet werden. Die Notwendigkeit zur Vorbearbeitung von Messobjekten entfällt. All diese Faktoren tragen zu einer präzisen Analyse des Messobjekts bei. So können mit diesen Mikroskopen beispielsweise Oberflächen-, Innen- und Bodenschichten von durchsichtigen Messobjekten betrachtet und die Dicke von Folien gemessen werden.

Die Ausstattung eines 3D Laserscanning-Mikroskops mit mehreren verschiedenen Messprinzipien kann die Mess- und Analysemöglichkeiten noch erweitern. Durch die Kombination verschiedener Messprinzipien wie Weißlichtinterferometrie und Fokusvariation, können die Herausforderungen der einzelnen Verfahren dank der Vorteile anderer Verfahren in einem einzigen Gerät überwunden werden.

3D Laserscanning-Mikroskope können je nach Messobjekt oder Messanforderungen Limitationen im Bereich der vertikalen Auflösung und/oder der Scan-/Messgeschwindigkeit ausweisen. Die Weißlichtinterferometrie kann die vertikale Auflösung bei jeder Vergrößerung stabil halten. Weißlichtinterferometer zeichnen sich durch ihre hohe Scangeschwindigkeit und großflächige Messung bei niedrigen Vergrößerungen aus. Sie bieten so einen stabilen Betrieb bei hohen und niedrigen Vergrößerungen. Die 3D Laserscanning-Mikroskope von KEYENCE setzen drei integrierte Messprinzipien ein: konfokaler Laser, Weißlichtinterferometrie und Fokusvariation, wodurch zuverlässiges Abtasten der Z-Achsen-Fokuspositionen ermöglicht wird. Dadurch finden sie Anwendung für eine breite Palette von Objekten, unabhängig von Form, Material, Reflexionsgrad oder Transparenz.

3D Laserscanning-Mikroskope können durch die Variationsmöglichkeiten der Vergrößerung für unterschiedliche Messungen eingesetzt werden. Niedrige Vergrößerungen können das Oberflächenprofil des gesamten Messobjekts mit einem breiten Sichtfeld erfassen, während hohe Vergrößerungen die Rauheit der Messobjektoberfläche berührungslos analysieren können.

Ausgestattet mit konfokalem Laser, Weißlichtinterferometrie und Fokusvariation können die 3D Laserscanning-Mikroskope von KEYENCE das Oberflächenprofil des gesamten Messobjekts mit einem breiten Sichtfeld erfassen. Zudem können hochauflösende Daten von kleinsten, für das menschliche Auge nicht sichtbaren Merkmalen erfasst werden. Dies trägt zur zuverlässigen Erfassung der Oberflächenrauheit bei. Messungen und Analysen können flexibel auf allen Skalen vom Millimeterbereich bis hin zu Messobjekten in der Größenordnung von Mikro- und Nanometern durchgeführt werden. Durch die Komnination mehrerer Messverfahren in einem Gerät benötigen 3D Laserscanning-Mikroskope wenig Mess- und Analysezeit. Ein zusätzlicher Vorteil ist, dass sie eine zentrale Verwaltung der Daten ermöglichen.

Die Oberflächenrauheit hat viele standardisierte Parameter; je mehr Parameter enthalten sind, desto komplizierter wird die Messung. Auch erfordern viele Parameter mehr Zeit zur Auswertung. Die Quantifizierung allein reicht für eine Beurteilung und i.O./n.i.O.-Prüfungen nicht aus, zudem können Qualitätskontrollen eine Herausforderung darstellen. Die 3D Laserscanning-Mikroskope der Modellreihe VK-X3000 von KEYENCE können die Oberflächen von Messobjekten mit hoher Auflösung abtasten und quantitative 3D-Messungen liefern. Die Messergebnisse können i.O./n.i.O.-Prüfungen unterzogen werden, indem sie anhand von 42 Rauheitsparametern über mehrere Proben hinweg verglichen werden. Die Oberflächenrauheit wird quantifiziert und die Rauheitsverteilung kann in Diagrammen dargestellt werden. Dies ermöglicht die Quantifizierung von Unterschieden in Material, Oberfläche, Textur, Haptik und anderen Erscheinungsmerkmalen.

3D Laserscanning-Mikroskope erfassen während der Messung Daten zur Intensität des reflektierten Laserlichts. Diese Daten werden verwendet, um ein Bild der Oberflächenbeschaffenheit des Messobjekts zu erfassen. Die 3D Laserscanning-Mikroskope der Modellreihe VK-X3000 sind zusätzlich zum Lichtaufnahmeelement (PMT) für den Laser mit einer Farb-CMOS-Kamera ausgestattet, mit der gleichzeitig auch Farbinformationen des Messobjekts erfasst werden können. Laserbilder haben eine sehr hohe Auflösung. Da die Bilder durch Überlagerung der im Fokus befindlichen Bereiche erzeugt werden, können außerdem sehr präzise Betrachtungsbilder aufgenommen werden. Durch die Überlagerung der Farbinformationen aus dem Farb-CMOS auf das hochauflösende Laserbild kann ein tiefenscharfes Farbbild erzeugt werden. Somit können Farbbilder mit hoher Tiefenschärfe und hochpräzise Profilmessungen mit einem einzigen Gerät erfasst werden.

Die 3D Laserscanning-Mikroskope der Modellreihe VK-X3000 sind so aufgebaut, dass man das Mikroskop in einen Messkopf und eine Basis aufteilen kann. Dies bedeutet, dass sie für die Nutzung an großen Messobjekten mit einem größeren Objekttisch kombiniert werden können. Dadurch ermöglicht das 3D Laserscanning-Mikroskop Anwendungen für viele verschiedene Messobjekte - unabhängig ihrer Größe.

Die 3D Laserscanning-Mikroskope der Modellreihe VK-X3000 sind einfach zu bedienen, vor allem dank der AI-Scan-Funktion. Der Bediener kann die Messung starten, indem er das Messobjekt platziert und auf eine Schaltfläche klickt. Zuverlässige Messungen werden durch fortschrittliche Algorithmen erreicht. Sie gewährleisten eine zuverlässige Erkennung der reflektierten Lichtintensität, eine automatische Anpassung der empfangenen Lichtintensität je nach Oberflächenbedingungen und die Messung komplexer Merkmale durch Verwendung mehrerer Scanoptionen.

Die maximale Vergrößerung der 3D Laserscanning-Mikroskope der Modellreihe VK-X3000 beträgt 28800× (mit einer 23-Zoll-Vollbildanzeige). KEYENCE bietet eine breite Produktpalette von Spezialobjektiven von 2,5× bis 150× an. Sie können so das für Ihre Zwecke am besten geeignete Objektiv auswählen, wie beispielsweise eines mit großem Arbeitsabstand, das mehr Spielraum zum Platzieren von Messobjekten bietet.

Die 3D Laserscanning-Mikroskope der Modellreihe VK-X3000 verwenden ein Firmenlizenzsystem, das die Nutzung der Software auf mehreren Computern ermöglicht. Dies bedeutet, dass Sie die Software auf allen Computern im Büro installieren können, auch wenn Sie nur ein 3D Laserscanning-Mikroskop besitzen. Die Software kann auch per Fernzugriff genutzt werden und unterstützt so das Arbeiten von zu Hause und bei Geschäftsreisen den Zugriff von anderen Büros oder Hotels aus. Der sofortige Austausch von Daten zwischen den zuständigen Mitarbeitern erleichtert eine schnelle Projektabwicklung.