Prüfung der Chip-Oberfläche auf Mängel
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Industriebereich:
- Halbleiter/LCDs, Elektroindustrie
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Produkte:
- Industrielle Bildverarbeitung
Bei Vorgängermodellen wird die Prüfung durch Blendung und die Oberflächenstruktur des Prüfobjekts beeinträchtigt. LumiTrax™ ermöglicht eine genaue Erkennung von Mängeln und Verschmutzungen.
Fehlerhaftes Bild
LumiTrax™-Bild
