Koplanaritätsprüfung von Pins

Gleichzeitige Prüfung von Koplanarität und Abstand von Pins an Power-ICs. Die Modellreihe LJ-X ist mit einem Filter ausgestattet, der Rauschsignalanteile, die durch die Mehrfachreflexionen des reflektierten Lichts verursacht werden, entfernt und gleichzeitig die Kontur des Messobjekts beibehält. Dies ermöglicht stabile Prüfungen direkt in der Fertigungslinie.