Messung der Ebenheit von Keramikgehäusen

Messung der Ebenheit von Keramikgehäusen. Die Erfassung der Oberflächenkonturen des Messobjekts ermöglicht die Messung der Ebenheit in Referenz zu einer zusätzlichen Bezugsebene, die automatisch nach der Methode der kleinsten Quadrate berechnet wird. Zusätzliche Abweichungen, welche durch eine Neigung des Messobjekts entstehen, werden durch eine automatische Neigungskorrektur ausgeglichen.

2D/3D Laser-Profilsensor

Modellreihe LJ-X8000

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