3D Laserscanning-Mikroskop
Modellreihe VK-X4000
Neu
3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X4000
3D Laserscanning-Mikroskop für hochpräzise, großflächige Messungen
Dank Triple Principle Integrated und automatischen Multi-Punkt-Messungen ermöglicht das VK-X4000 hochauflösende, materialunabhängige Messungen über einen großen Messbereich.
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Drei Messverfahren in einem System
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Automatische Messungen mehrerer Positionen und Messobjekte
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AI-ANALYZER macht den Unterschied für jeden leicht sichtbar
Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X4000 vereint drei Messverfahren in einem System: konfokaler Laser, Weißlichtinterferometrie und Fokusvariation. Damit lassen sich hochpräzise Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte durchführen. Es liefert schnelle, hochpräzise und großflächige Messungen, selbst auf herausfordernden Oberflächen wie hochglänzenden und transparenten Materialien. Die Modellreihe VK-X4000 bietet außerdem eine neu entwickelte, automatische Multi-Punkt-Messung, mit der Messungen mehrerer Positionen und Messobjekte schnell automatisiert werden können. Durch den geringeren Zeitaufwand sowie einfache Bedienbarkeit optimiert die Modellreihe VK-X4000 die Objektivität, Effizienz und Zuverlässigkeit.
Merkmale
Triple Principle Integrated: Drei Messverfahren in einem System ermöglichen Messungen unabhängig von Material, Form und Oberflächenbeschaffenheit
Konfokaler Laser
Zuverlässige Rauheitsanalyse und Messung von Höhenunterschieden komplexer und geometrisch anspruchsvoller Oberflächen ganz ohne Vorbereitung.
Weißlichtinterferometrie
Erfassung feinster Oberflächenkonturen beliebiger Materialien, selbst auf transparenten und spiegelnden Oberflächen.
Fokusvariation
Schnelle Erfassung von großen Messbereichen, selbst bei Messobjekten mit ausgeprägten Höhenunterschieden.
Einfache automatische Messung mehrerer Positionen und Messobjekte
Automatische Übertragung eines Messpunktes
Position, Koordinaten und Vergrößerungseinstellungen lassen sich durch Anklicken des zu messenden Punktes konfigurieren.
Automatisierte Messung mehrerer Messpunkte
Konfigurierte Messeinstellungen können einfach auf zahlreiche Messobjekte angewendet werden.
Automatische Rauheitsanalyse
Der Ra-Wert ist identisch, aber die Oberflächen sehen anders aus.
Verschiedene Rauheitsparameter werden verglichen, um den signifikantesten Unterschied sofort zu bestimmen.
Ra: 2,3 µm
Ra: 2,3 µm
Ra und Rz werden oft als Rauheitsparameter verwendet, aber es gibt zahlreiche weitere Parameter.
Mithilfe des AI-ANALYZER lässt sich schnell und einfach bestimmen, welcher Rauheitsparameter für ein bestimmtes Messobjekt am besten geeignet ist.
Vielfältige, hochauflösende Oberflächenanalyse
Hochpräzise Oberflächenerfassung sowohl bei geringer als auch bei hoher Vergrößerung.
