3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X4000

3D Laserscanning-Mikroskop für hochpräzise, großflächige Messungen

Dank Triple Principle Integrated und automatischen Multi-Punkt-Messungen ermöglicht das VK-X4000 hochauflösende, materialunabhängige Messungen über einen großen Messbereich.

Drei Messverfahren in einem System
Automatische Messungen mehrerer Positionen und Messobjekte
AI-ANALYZER macht den Unterschied für jeden leicht sichtbar

Modellreihe VK-X4000 - 3D Laserscanning-Mikroskop

Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X4000 vereint drei Messverfahren in einem System: konfokaler Laser, Weißlichtinterferometrie und Fokusvariation. Damit lassen sich hochpräzise Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte durchführen. Es liefert schnelle, hochpräzise und großflächige Messungen, selbst auf herausfordernden Oberflächen wie hochglänzenden und transparenten Materialien. Die Modellreihe VK-X4000 bietet außerdem eine neu entwickelte, automatische Multi-Punkt-Messung, mit der Messungen mehrerer Positionen und Messobjekte schnell automatisiert werden können. Durch den geringeren Zeitaufwand sowie einfache Bedienbarkeit optimiert die Modellreihe VK-X4000 die Objektivität, Effizienz und Zuverlässigkeit.

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Preisinformationen

Fragen

069 654 000

Merkmale

Triple Principle Integrated: Drei Messverfahren in einem System ermöglichen Messungen unabhängig von Material, Form und Oberflächenbeschaffenheit

Konfokaler Laser

Zuverlässige Rauheitsanalyse und Messung von Höhenunterschieden komplexer und geometrisch anspruchsvoller Oberflächen ganz ohne Vorbereitung.

Weißlichtinterferometrie

Erfassung feinster Oberflächenkonturen beliebiger Materialien, selbst auf transparenten und spiegelnden Oberflächen.

Fokusvariation

Schnelle Erfassung von großen Messbereichen, selbst bei Messobjekten mit ausgeprägten Höhenunterschieden.

Einfache automatische Messung mehrerer Positionen und Messobjekte

Automatische Übertragung eines Messpunktes

Position, Koordinaten und Vergrößerungseinstellungen lassen sich durch Anklicken des zu messenden Punktes konfigurieren.

Automatisierte Messung mehrerer Messpunkte

Konfigurierte Messeinstellungen können einfach auf zahlreiche Messobjekte angewendet werden.

Automatische Rauheitsanalyse

Der Ra-Wert ist identisch, aber die Oberflächen sehen anders aus.
Verschiedene Rauheitsparameter werden verglichen, um den signifikantesten Unterschied sofort zu bestimmen.

Ra: 2,3 µm

Ra und Rz werden oft als Rauheitsparameter verwendet, aber es gibt zahlreiche weitere Parameter.
Mithilfe des AI-ANALYZER lässt sich schnell und einfach bestimmen, welcher Rauheitsparameter für ein bestimmtes Messobjekt am besten geeignet ist.

Vielfältige, hochauflösende Oberflächenanalyse

Hochpräzise Oberflächenerfassung sowohl bei geringer als auch bei hoher Vergrößerung.