Rasterkraftmikroskop (AFM)
![](/Images/ss_microscope_glossary_ot_atomic_force_microscopes_001_2008228.jpg)
Dies sind Mikroskope mit einer Abtastsonde, von dem Messobjekte durch Verfahren einer mechanischen Sonde über der Oberfläche gemessen und erfasst werden. Diese Systeme können hochauflösende Daten unterhalb des Nanometerbereichs liefern.