Partikelanalyse / Restschmutzanalyse
Aufgrund der gestiegenen Anforderungen an die Produktqualität, sind geeignete Abhilfemaßnahmen gegen das Eindringen von Fremdkörpern bei Fertigungsprozessen in allen Industriezweigen ein brandaktuelles Thema. Die Analyse dieser Verschmutzungen (Restschmutzanalyse) nimmt daher einen immer höheren Stellenwert ein. Seien es Schmutzteilchen auf Leiterplatten in der Elektronikindustrie und in den Beschichtungen der Automobil-/Metallindustrie, Insekten in den Produkten der Medizinprodukt-/ Lebensmittelindustrie oder Fasern in den Produkten der Grundstoff-/Chemieindustrie, mit dem KEYENCE Digitalmikroskop haben Sie zahlreiche Betrachtungs- und Analysemöglichkeiten, um Restschmutzanalysen bzw. Partikelanalysen effizient durchzuführen.
- Beleuchtungsarten zur präzisen Betrachtung schwer erkennbarer Fremdpartikel
- Genaue Partikelanalyse/Restschmutzanalyse zur Bestimmung von Ursache und Lage
- Quantifizierbare Analyse durch Messung der Fremdkörper
Beleuchtungsarten zur präzisen Betrachtung schwer erkennbarer Fremdpartikel
Neben Objektiven mit geeigneter Helligkeit und hoher Auflösung, spielt vor allem die Auswahl einer passenden Beleuchtung eine sehr wichtige Rolle. Neben der Ringbeleuchtung kann auch mit einer Koaxialbeleuchtung gearbeitet werden, um das zu betrachtende Objekt präzise zu untersuchen. Bei schwacher Reflexion oder bei Lichtdurchlässigkeit des Messobjekts im Rahmen der Partikelanalyse/Restschmutzanalyse ist die Durchlichtbeleuchtung von unten die erste Wahl für die Analyse mit einem digitalen Mikroskop. Ist die Reflexion stärker und führt zu Glanz, hilft eine diffuse Beleuchtung dabei, die Partikel bzw. den Restschmutz klar vom Messobjekt zu unterscheiden. Oft ist auch eine Änderung der Beleuchtungsrichtung hilfreich, sodass mit einer Seitenbeleuchtung Fremdkörper einfacher visualisiert werden können. Schließlich hilft eine polarisierte Beleuchtung dabei, falls das Messobjekt nur durch ein transparentes Objekt hindurch betrachtet werden kann.
- A
- Lichtquelle
- B
- Objektiv
- C
- Messobjekt
- D
- Halbspiegel
- A
- Lichtquelle
- B
- Objektiv
- C
- Messobjekt
- D
- Mattglasfilter
Das Digitalmikroskop VHX-6000 von KEYENCE bietet mit der Multi-Lighting-Funktion die Möglichkeit, die Beleuchtung jederzeit nachträglich und benutzerunabhängig im Bild zu ändern, da alle Beleuchtungsinformationen in der Aufnahme gespeichert werden. Eine Neuaufnahme des Objekts ist nicht mehr erforderlich. Weiterhin können Partikelanalysen bzw. Restschmutzanalysen durch die Ringreflexionsminimierung des digitalen KEYENCE Mikroskops noch detaillierter durchgeführt werden, da per Knopfdruck Reflexionen wie bspw. durch Flussmittel auf den Oberflächen von Leiterplatten eliminiert werden können.
Genaue Partikelanalyse/Restschmutzanalyse zur Bestimmung von Ursache und Lage
Durch eine Betrachtung aus der Schräge kann mit dem VHX-6000 genau beurteilt werden, ob sich Fremdpartikel auf der Oberflächenschicht oder innerhalb der darunterliegenden Schicht befinden. Dies erleichtert anschließende Partikelanalysen/Restschmutzanalysen, um gezielte Lösungsvorschläge zu erarbeiten.
Eine weitere Hilfestellung für das Detektieren geeigneter Lösungen liegt in der 3D-Betrachtung des Fremdkörpers. Mithilfe der 3D-Daten kann das Digitalmikroskop von KEYENCE im Zuge der Analyse genau feststellen, ob es sich bei dem auftretenden Problem um Kratzer oder um das Eindringen von Partikeln bzw. Restschmutz handelt.
Quantifizierbare Analyse durch Messung der Fremdkörper
Nach der Betrachtung der Fremdkörper folgt in der Partikelanalyse bzw. Restschmutzanalyse deren Messung. Das KEYENCE Digitalmikroskop VHX-6000 bietet in diesem Zusammenhang eine große Auswahl an Messfunktionen. Zudem können neben der Messung direkt im Live-Bild auch Berichte in Textverarbeitungs- oder Tabellenkalkulationsprogrammen auf einfache Weise erstellt werden.
Partikelanalysen bzw. Restschmutzanalysen können mit dem VHX-6000 gemäß ISO-Norm 16232 oder VDA 19 anhand von Bildern mit hoher Tiefenschärfe durchgeführt werden. So können selbst Messobjekte mit Erhöhungen und Vertiefungen mit hoher Präzision vermessen werden. Dabei wird, abhängig vom Grad der Partikelverunreinigung, der empfohlene Messbereich angezeigt. Messungen von 1 µm sind mit dem KEYENCE Digitalmikroskop im Rahmen von derartigen Analysen möglich.
