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Unterschiede zwischen den ISO-Normen der Linien- und Oberflächenrauheit

Unterschiede zwischen ISO 25178 und ISO ISO 4287 / ISO 4288

In der nachfolgenden Tabelle sind die Unterschiede zwischen ISO 25178 und ISO 4287 / ISO 4288 zusammengefasst.

Element / Norm ISO 25178 ISO 4287 / ISO 4288
Messinstrumente Kontakt-Typen und kontaktlose Typen von Messinstrumenten Kontakttyp
(nur mit Tasterspitze)
Querschnitt Beurteilungsobjekt S-F-Oberfläche Querschnittsprofil
Filter S-Filter λs-Filter
Rauheit Beurteilungsobjekt S-L-Oberfläche Rauheitsprofil
Filter S-Filter, L-Filter λs-Filter, λc-Filter
Höhenparameter Maximale Spitzenhöhe Sp Rp
Maximale Vertiefungshöhe Sv Rv
Maximalhöhe Sz Rz
Arithmetische mittlere Höhe Sa Ra
quadratischer Höhenmittelwert Sq Rq
Schiefe Ssk Rsk
Wölbung Sku Rku
Räumliche Parameter Sal, Str, Std
Hybride Parameter Sdq, Sdr RΔq
Element / Norm ISO 25178 ISO 13565-2
Rauheit Funktionale Parameter Höhenunterschied auf Kernoberfläche Sk Rk
Verringerte Spitzenhöhe Spk Rpk
Verringerte Taltiefe Svk Rvk
Spitzenmaterialanteil Smr1 Mr1
Talmaterialanteil Smr2 Mr2

[Achtung] Die obenstehende Tabelle beruht auf den Definitionen für die Oberflächenparameter, wie sie in ISO 25178-2 niedergelegt sind. Bitte beachten Sie, dass sich bei den oben angegebenen Informationen durch Überarbeitungen der Normen nach April 2012 Änderungen ergeben können.



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