3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X3000 Präzise Messung selbst kleinster Merkmale bis in den Nanometerbereich Laserscanning-Mikroskop mit „Triple Principle Integrated“

  • Konfokaler Laser
  • Weißlichtinterferometrie
  • Fokusvariation

Triple Principle Integrated: Eine Kombination aus drei verschiedenen Messmethoden für eine berührungslose Erfassung von Formen im Nano-, Mikro- und Millimeterbereich

  • Messung selbst kleinster Merkmale
  • Schnelle Oberflächenerfassung bei Messobjekten mit großen Höhenunterschieden und Messbereichen
  • Einfache Messung auch bei schwer zu scannenden transparenten und spiegelnden Oberflächen

Vielseitige Beleuchtungsmöglichkeiten für eine detaillierte Betrachtung und eine hohe Bildqualität

  • Realistische Betrachtung von unebenen Oberflächen
  • Verbesserte Oberflächenerfassung und Analyse kleinster Unregelmäßigkeiten wie Kratzer
  • Farbaufnahmen mit einem hochauflösendem Laser

Prüfverfahren automatisieren für kürzere Prüfzeiten

  • Signifikante Verkürzung der Messzeit dank Prüfmodus
  • Großer Objekttisch zur Messung von großen Messobjekten
  • Einsetzbar auch außerhalb von Labor- und Messräumen

Hochpräzise Oberflächenerfassung sowohl bei geringer als auch bei hoher Vergrößerung

Vielfältige, hochauflösende Oberflächenanalyse

Weitere Details in der Broschüre anzeigen

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