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Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Dies sind Mikroskope mit einer Abtastsonde, von dem Messobjekte durch Verfahren einer mechanischen Sonde über der Oberfläche gemessen und erfasst werden. Diese Systeme können hochauflösende Daten unterhalb des Nanometerbereichs liefern.