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Glossar zur Mikroskopie
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Dies sind Mikroskope mit einer Abtastsonde, von dem Messobjekte durch Verfahren einer mechanischen Sonde über der Oberfläche gemessen und erfasst werden. Diese Systeme können hochauflösende Daten unterhalb des Nanometerbereichs liefern.

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Glossar

01. Optische Mikroskope

Digitalmikroskop
Stereomikroskop
Messmikroskop
Metallurgisches Mikroskop
Biologisches Mikroskop
Fluoreszenz-Mikroskop

02. Sonstige Mikroskope

Konfokalmikroskop
Konfokales Laserscanningmikroskop
Rasterelektronenmikroskop (REM)
Fluoreszenz-Konfokalmikroskop
Rasterkraftmikroskop (AFM)

03. Zubehör für Mikroskope

Zoomobjektiv
Differential-Interferenz-Kontrast (DIC)
System zur Betrachtung aus jedem beliebigen Winkel
Gekühltes CCD-Element

04. Techniken zur mikroskopischen Betrachtung

HDR-Funktion
Tiefenzusammensetzung
3D-Darstellung

05. Optische Beleuchtungstechniken

Durchlichtbeleuchtung
Koaxialbeleuchtung
Ringbeleuchtung
Diffuse Beleuchtung
360°-Seitenlichtbeleuchtung
Polarisierte Beleuchtung
Multi-Lighting

06. Technische Terminologie zur Mikroskopie

Tiefenschärfe
Numerische Apertur
Bildsensor
Farbauflösung
Lichthofbildung
Telezentrizität
Partikelanalyse / Restschmutzanalyse

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