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Glossar zur Mikroskopie
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Dies sind Mikroskope mit einer Abtastsonde, von dem Messobjekte durch Verfahren einer mechanischen Sonde über der Oberfläche gemessen und erfasst werden. Diese Systeme können hochauflösende Daten unterhalb des Nanometerbereichs liefern.

Hochpräzise & Vielfältige Oberflächenanalyse

Erfahren Sie mehr über das 3D Laserscanning-Mikroskop VK-X3000 und die Möglichkeiten für schnelle, vielfältige und hochauflösende Oberflächenanalysen.

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