Hochpräzise Oberflächenanalyse NEU 3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X4000

Konfokaler Laser
Weißlicht-interferometrie
Fokusvariation

Multi-Punkt-Messung
300 mm-Objekttisch

Triple Principle Integrated für Messungen im Nano-, Mikro- und Millimeterbereich

Konfokaler Laser

Weißlichtinterferometrie

Fokusvariation

Multi-Punkt-Messungen für hochauflösende, großflächige Analyse von Messobjekten

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