Deutschland

Automatisches Messen und Analysieren von 3D-Oberflächen

Das konfokale 3D Laserscanning-Mikroskop der VK-X-Serie bietet kontaktlose Messung des Profils, der Rauheit und der Foliendicke. Damit lassen sich unterschiedlichste Materialoberflächen bewerten und mit Hilfe der Analysefunktionen automatisch prüfen.

  • Kontaktlose Messungen

    Messen von Profil, Rauheit und Foliendicke mit Nanometer-Auflösung.

  • Schnelles Sammeln von Oberflächendaten

    Auf unterschiedliche Messobjekte anwendbar.

  • Spitze Winkelerkennung

    Messung von steilen Flanken und kleinen Spitzenradien ohne großen Aufwand.

  • Hohe Auflösung und Bildkontrastfähigkeit

    Laser mit kurzer Wellenlänge erzeugt Bilder mit höherer Auflösung und mit mehr Detailtiefe.

  • Automatische Analyse und Verarbeitung mehrerer Dateien

    Verarbeitung sorgt für Einheitlichkeit und Reproduzierbarkeit zwischen den Messergebnissen und verkürzt die Analysezeit.

  • Benutzerfreundlich

    Keine große Vorbereitung von Proben nötig. Die Software führt die Anwender Schritt für Schritt durch den Vorgang. Die Empfehlungsfunktion hilft den Probenunterschied einfacher zu finden.

  • Katalog herunterladen
    für weitere Informationen.

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