• Deflektometrie: LumiTrax Zeilenkamera mit strukturierter Beleuchtung


  • Zeilenkameras von KEYENCE

    Modellreihe XG-X
    • Hohe Auflösung 
    • Schnelle Abtastrate 
    • Einfache Einrichtung
  • Erkennung von feinsten Defekten

    Bestimmte Materialien und Verarbeitungsmethoden können unterschiedliche Defekte zur Folge haben. Mit dem LumiTraxTM-Spiegelreflexionsmodus lassen sich je nach Anwendung aus einer Aufnahmesequenz mehrere Bilder generieren, so dass der Anwender gezielt die für den jeweiligen Defekt relevanten Bilddaten auswählen kann.

  • Einfache Inbetriebnahme

    Das in-line Deflektometrie- System ist so gestaltet, dass selbst Einsteiger das System in 20 Minuten in Betrieb nehmen können. Es enthält alle Komponenten, von der Zeilenkamera über das Objektiv, die Beleuchtung und den Encoder bis zum industriellen PC und der Software. Der Einstellnavigator macht die Installation maximal einfach: Ein in die Kamera integrierter Laser-Pointer visualisiert den Inspektionsbereich.

  • Anpassung von Intensitätsschwankungen

    Um auch im Fall von Zustandsänderungen im Prüfobjektstatus oder im externen Umfeld wesentlich stabilere Erkennungen gewährleisten zu können, wurde das System mit einer Vielzahl von Vorverarbeitungsfiltern ausgestattet. Basierend auf dem von KEYENCE entwickelten Algorithmus ermöglichen diese Filter die Erzeugung von Bildern, mit denen stabile Prüfungen sichergestellt werden können und weniger unnötige Ausschleusungen aufgrund von Fehlerkennungen auftreten.
  • Diffuse Reflexion

  • Spiegelnde Reflexion

  • Topografie

  • Glanzgrad

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