3D Laserscanning-Mikroskop VK-X3000

  • Vielfältige, hochauflösende Oberflächenanalyse

    • Triple Principle Integrated: Laser - Weißlichtinterferometrie - Fokusvariation
    • Auflösung von bis zu 0,01 nm
    • Schnelle Messung über einen großen Messbereich

Was zeichnet das 3D Laserscanning-Mikroskop VK-X3000 aus?

Es stehen drei verschiedene Messmethoden zur Verfügung: konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie. Die Auswahl der geeigneten Messmethode für das Material und den Messbereich des Objekts gewährleistet eine hochpräzise Auswertung. Dies ermöglicht eine schnelle, vielfältige und hochauflösende Oberflächenanalyse. So sind Analysen sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche möglich.

  • Hochpräzise 
    Messungen

    Formabweichungen in der Größenordnung von Nanometern können genau gemessen werden

  • Schnelle & großflächige Analysen

    Schnelle Messung über einen großen Messbereich, selbst bei Objekten mit großen Höhenunterschieden

  • Hochpräzise Oberflächenerfassung

    Hochpräzise Oberflächenerfassung sowohl bei geringer als auch bei hoher Vergrößerung

Weitere Anwendungsbeispiele sowie technische Details finden Sie hier:

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