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Schnelles, hochpräzises Profilmesssystem, welches Oberflächen in nur einer Sekunde erfasst, ähnlich zu einem 3D-Scanner. Anschließend können Kontur-, Ebenheits- und Rauheitsmessungen von großen Bereichen durchgeführt werden.
Das LM ist ein optisches Koordinaten-Messsystem, mit dem jeder Benutzer hochpräzise Messungen im Bereich von ±0,1 µm durchführen kann. Hochpräzise automatische Messungen mit Auflicht-Beleuchtung können auf Knopfdruck erfolgen.
Benutzerfreundliches, optisches 4K-Mikroskop, welches hochauflösende Bilder und fortschrittliche Messungen ermöglicht und somit gut in der Qualitätssicherung oder Forschung und Entwicklung einsetzbar ist.
