Differential-Interferenz-Kontrast (DIK)
Betrachtung mit dem Digitalmikroskop VHX

• Ohne DIK: Kerbe in Metall (300x)

  Bei der Betrachtung mit Differential-Interferenz-Kontrast (DIK) [Englisch - DIC, Differential Interference Contrast] spaltet ein DIK-Prisma Licht in zwei gleichwertige, seitlich versetzte, parallele Teilstrahlen.

• Mit DIK: Höhenunterschiede sind deutlich erkennbar

  Bei der anschließenden Wiederzusammenführung des reflektierten Lichts entstehen Interferenzen, anhand derer sich die mikroskopisch kleinen Erhöhungen und Vertiefungen auf dem Objekt einfach erfassen lassen. Dies ermöglicht die deutliche Betrachtung von Kratzern auf Metall und Glas sowie von Welligkeiten und Unebenheiten auf Folien.

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• Technische Funktionen

  Neben der Beleuchtung mit DIK verfügen die Digitalmikroskope der VHX-Modellreihe über zahlreiche weitere technische Funktionen, wie unter anderem: 

  • Vergrößerung von 0,1x bis 6000x
  • HDR Aufnahmen und automatische Tiefenschärfe
  • Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung, Multi-Lighting, etc.
  • 3D-Darstellungen und -Messungen
  • Vielfältige Analyseoptionen
  • Einfache Daten- und Bilddokumentation
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• Digitalmikroskop VHX