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  • Digitalmikroskop VHX mit Differential-Interferenz-Kontrast-Betrachtung

  • Differential-Interferenz-Kontrast

    Beim Differential-Interferenz-Kontrast handelt es sich um ein Beleuchtungsverfahren, bei dem kleinste Höhenunterschiede an einem Messobjekt durch die Interferenz von Lichtwellen sichtbar gemacht werden. Auf diese Weise können selbst transparente Proben mit großer Detailtreue betrachtet werden. Das Verfahren eignet sich zur Betrachtung winziger Defekte oder Stufen auf der Oberfläche der Probe.

  • Anwendungshinweis

    Verwenden Sie DIK, um sehr kleine Höhenunterschiede zu visualisieren.

  • Anwendungsbeispiele

    Beispielsweise Folien, Flüssigkristall ACF, Glasoberflächen oder Wafer.

Nähere Einzelheiten sowie Anwendungsbeispiele erhalten Sie in unserem Katalog.

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