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3D-Laser-Messmikroskop der Modellreihe VK-X führt Profil- und Rauheitsmessungen vom Nanometer- bis in den Millimeterbereich durch
Erfahren Sie, wie das Lesen von Codes auf anspruchsvollen Oberflächen durch Positionierungs- und Programmierungsverfahren realisiert werden kann.
Dank der Kombination aus abstandsbasierter Erfassung und einer Laserlichtquelle erkennt die Modellreihe GV genau Positionsänderungen und das Vorhandensein bzw. Fehlen von Teilen. Dies ist ideal für das Ausschalten unterschiedlicher Arten von Fehlern in schlanken Fertigungsumgebungen.
Band 4 unserer beliebten Reihe stellt verschiedene Objektivarten, die Positionierung auf der Basis der Bildverarbeitung und die Bildfilterung vor.
Ein Blick in den neuen Anwendungsleitfaden verrät wie unsere Kunden, dank unseres neuesten Mikroskops, auch die anspruchsvollsten Bildverarbeitungsaufgaben mühelos meistern. Fordern Sie eine unverbindliche Live-Demo in Ihrem Hause an, um das System mit Ihren eigenen Proben zu testen.
Wir möchten Ihnen demonstrieren, wie Sie mit den von KEYENCE eingesetzten einzigartigen Methoden der elektrostatischen Entladung Produktschäden und Ausfallzeiten verringern können.
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Was macht den GP-M zu einem der benutzerfreundlichsten Drucksensoren auf dem Markt?
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