Wafer-Rückseite: Rauheitsmessung (1.000x)

Dank der Betrachtungsbilder vom Laserstrahl kann der Benutzer Messobjekte sicher erfassen, die sich mit optischen Bildgebungsverfahren nur unzureichend visualisieren lassen.

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Wafer-Rückseite: Rauheitsmessung (1.000x)