CCD: Längenquerschnittsmessung (3.000x)

Dank stark vergrößerter Betrachtungen und den leistungsstarken Messfunktionen des Lasermikroskops sorgt die Modellreihe VK-X für saubere Betrachtungen und Messungen an CCDs, die mit optischen Mikroskopen unmöglich sein können.

Da die Messung kontaktlos erfolgt, ist während des Messvorgangs nicht mit Beschädigungen wie bei taktilen Messungen zu rechnen.

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CCD: Längenquerschnittsmessung (3.000x)