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Modellreihe VK-X100/X200 3D-Laserscanningmikroskop
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Technische Daten

Modellreihe VK-X100/X200 3D-Laserscanningmikroskop

Leistungsstärkstes Modell seiner Klasse - die technischen Daten beweisen es.

Nähere Infos finden Sie im PRODUKTKATALOG, den Sie über das Service-Menü oben herunterladen können.
Modellreihe VK-X100/X200 3D-Laserscanningmikroskop
1. Der Betrachtungs-/Messbereich ist das minimale Sichtfeld.
2. Bei Messung eines Standard-Höhenunterschieds von 2 μm mit dem 50fachen-Objektiv
3. Bei Messung der Linienbreite von 1 μm auf der KEYENCE-Testkarte mit dem 150fachen-Objektiv im Linien-Peak-Modus (Bildmittelung: 8 Mal)
4. Bei Messung der Linienbreite von 1 μm auf der KEYENCE-Testkarte mit dem 100fachen-Objektiv im Linien-Peak-Modus (Bildmittelung: 8 Mal)
5. Bei Messung der Linienbreite von 1 μm auf der KEYENCE-Testkarte mit dem 50fachen-Objektiv (optischer Zoom 2x) im Linien-Peak-Modus (Bildmittelung: 8 Mal)
6. Die auf IEC60825-1 basierende Einstufung erfolgt gemäß den einschlägigen US-Bestimmungen: “FDA (CDRH) Laser Notice No. 50”.
7. Windows 7 ist eine eingetragenes Warenzeichen des Unternehmens Microsoft, USA.
8. Bei höchster Geschwindigkeit und Verwendung einer Kombination aus Messmodus/Messqualität/Objektivvergrößerung. Wenn die Zeilenabtastung innerhalb eines Messabstands von 0,1 μm liegt.
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