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Mikroskope für alle Einsatzbereiche und Industriezweige

Digitalmikroskope
Modellreihe VHX-2000
Modellreihe VHX-2000
Digitalmikroskop
NEU
Enorm hohe Auflösung durch Super Resolution-Funktion
Navigationsfunktion
Modellreihe VHX-500F
Modellreihe VHX-500F
Digital-Mikroskop
Sämtliche Funktionen, die Sie benötigen, stellt Ihnen das kompakte VHX-500F zur Verfügung. Sie können also mit einem einzigen Gerät betrachten, aufzeichnen und messen.
Laserscanningmikroskop
Modellreihe VK-X100/X200
Modellreihe VK-X100/X200
3D-Laserscanningmikroskop
NEU
Untersuchungen mit höchster Auflösung und verschiedenste Möglichkeiten der Profilvermessung mit einem einzigen Mikroskop.
Bewegungsanalyse-Digitalmikroskop
Modellreihe VW-9000
Modellreihe VW-9000
Die Erfassung des Augenblicks
NEU
Ermöglicht Hochgeschwindigkeitsaufzeichnungen von Bewegungen mit bis zu 230.000 fps. Damit lassen sich mit herkömmlichen Mikroskopen nicht erfassbare schnelle Bewegungen präzise filmen.
Modellreihe VW-6000
Modellreihe VW-6000
Wer den Lauf der Zeit verlangsamen kann, sieht einfach mehr!
Ermöglicht Hochgeschwindigkeitsaufnahmen mit bis zu 24.000 Bildern pro Sekunde. Damit lassen sich selbst sehr schnelle Bewegungen, die mit herkömmlichen Mikroskopen nicht erfassbar sind, präzise aufnehmen und analysieren.
Fluoreszenz-Mikroskop
Modellreihe BZ-9000
Modellreihe BZ-9000
Kompaktes Fluoreszenz-Mikroskop HS
NEU
Kompaktes Fluoreszenz-Mikroskop, keine Dunkelkammer erforderlich!
Modellreihe BZ-8000
Modellreihe BZ-8000
Fluoreszenz-Mikroskop
Dank einfachster Handhabung, der Fähigkeit zur Erstellung von Bildern in höchster Qualität sowie der exzellenten Portabilität und den übrigen Eigenschaften (z.B. Keine Dunkelkammer Erforderlich) setzt das Modell BZ-8000 einen neuen Standard im Bereich der Fluoreszenz-Betrachtung.
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Technischer Leitfaden zur Oberflächenrauheit, gemäß neuer ISO-Norm Technischer Leitfaden zur Oberflächenrauheit, gemäß neuer ISO-Norm NEU
Neuer Leitfaden zum Nachschlagen erläutert Grundlagen der Oberflächenrauheit, unter Berücksichtigung der neuen ISO-Norm für Oberflächenbeschaffenheit, und vergleicht unterschiedliche Messtechnologien.

Interferometer vs. 3D-Laserscanningmikroskop Interferometer vs. 3D-Laserscanningmikroskop
Lernen Sie die Leistungsmerkmale, Funktionen und Funktionsprinzipien dieses topmodernen Systems kennen und erkennen Sie, wie Ihnen das System effektiv bei der 3D-Charakerisierung von Oberflächen helfen kann.

Verhindern von Fertigungslinienausfällen und Verbessern der Fehlerbehebung Verhindern von Fertigungslinienausfällen und Verbessern der Fehlerbehebung
Neues Hochgeschwindigkeitskamerasystem vereinfacht die Prozessüberprüfung, erfordert für den Bediener nahezu keine Schulung und kann innerhalb von Minuten eingerichtet werden.

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