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Laserscanningmikroskop
Modellreihe VK-X100/X200
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3D-Laserscanningmikroskop
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Mikroskop, REM und Oberflächen-/Rauheitsmessgerät in einem Gerät
•  [NEU] Dieses Modul geht konform mit der ISO25178 und erlaubt dem Benutzer verschiedenste Parameter bei der Vermessung von Oberflächenbeschaffenheit zu bestimmen.
•  [NEU] Betrachtung mit einem digitalen Mikroskop
•  Laser-Betrachtung mit 16-Bit-Auflösung
•  [Breites Feld] WIDE-Scan
•  [Messung] AI-Scan
•  Hochauflösende Bilder und große Tiefenschärfe
•  Schnelle 3D-Farbbilder
•  Zerstörungsfreie Profilometrie und Rauheitsmessungen
Merkmale Technische Daten Abmessungen
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Technischer Leitfaden zur Oberflächenrauheit, gemäß neuer ISO-Norm Technischer Leitfaden zur Oberflächenrauheit, gemäß neuer ISO-Norm NEU
Neuer Leitfaden zum Nachschlagen erläutert Grundlagen der Oberflächenrauheit, unter Berücksichtigung der neuen ISO-Norm für Oberflächenbeschaffenheit, und vergleicht unterschiedliche Messtechnologien.
Interferometer vs. 3D-Laserscanningmikroskop Interferometer vs. 3D-Laserscanningmikroskop
Lernen Sie die Leistungsmerkmale, Funktionen und Funktionsprinzipien dieses topmodernen Systems kennen und erkennen Sie, wie Ihnen das System effektiv bei der 3D-Charakerisierung von Oberflächen helfen kann.
Neuer Anwendungsleitfaden zu unserem 3D Laser-Messmikroskop - Band 2 Neuer Anwendungsleitfaden zu unserem 3D Laser-Messmikroskop - Band 2
Sehen Sie sich Probleme aus der Praxis an, die sich mit unserem Lasermikroskop VK-X mühelos meistern ließen.
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