Digitalmikroskop

Modellreihe VHX-2000

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Automatische Messfunktionen

Erweiterte automatische Messfunktionen

Automatische Ein-Klick-Messung

[Automatische Kantenerkennung, speichern von Messvorlagen]

Bis jetzt musste auch beim VHX beim Messen jeder Schritt einzeln mit der Maus abgearbeitet werden. Beim VHX-2000 werden nun mehrere Messpunkte in einer Vorlage gespeichert (Vorlagendaten). Anschließend erfolgt ein Musterabgleich zwischen der Vorlage und dem entsprechenden Bereich auf dem Objekt, um diesen schließlich automatisch vermessen zu können. Außerdem ist das System mit automatischer Kantenerkennung ausgerüstet, so dass benutzerbedingte Schwankungen der Vergangenheit angehören. Wenn Sie bei Ihrer Anwendung für jedes Los die gleiche Messung durchführen müssen oder wenn Sie die gleiche Messung in mehreren Bereichen durchführen müssen, lässt sich der Zeitaufwand für das Messen erheblich verringern.

Automatische Ein-Klick-Messung

Mit Vorlagenspeicherung und automatischer Kantenerkennung

Mit Vorlagenspeicherung und automatischer Kantenerkennung

Messung der größten Fläche

Sondenfehler (1000x)

Misst unverzüglich die größte Fläche innerhalb eines beliebigen von Ihnen mit der Maus festgelegten Bereichs auf dem Messobjekt. Dies ermöglicht einfache Messungen auch bei komplizierten Formen.

Automatische Flächenmessung/Zählung

[Flächenmessung, Binärumwandlung, Körnerzählung (Kolonie)]

Ermöglicht einfache Flächenmessungen oder Zählungen von Messobjekten innerhalb des festlegten Bereichs. Es besteht auch die Möglichkeit, nicht benötigte Messobjekte zu entfernen oder sich überlappende Messobjekte zu trennen. Dies sorgt für einfache Bedienung und hochgradig präzise Analysen.

Binärverarbeitung

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